Konfokales 3D-Laserscanning-Mikroskop der neusten Generation
Das neue Keyence VK-X1100 3D-Laserscanning-Mikroskop wurde Ende September 2019 in Betrieb genommen und läuft seitdem zu unserer vollsten Zufriedenheit. Die folgenden Merkmale sind nur einige der wertvollsten Innovationen und Eigenschaften dieser neusten Generation ihrer Art:
Es hat einen 16-mal größeren Messbereich als unser Vorgängermodell.
Die Messgenauigkeit wird jetzt mit einem 5-fachen Vergrößerungsobjektiv gewährleistet, was bei den vorherigen KEYENCE-Modellen nicht der Fall war.
Die Fokusvariation (ISO 25178-6) umfasst mehrere Aufnahmen, wenn sich das Objektiv entlang der Z-Achse nach oben und unten bewegt. Diese Bilder werden dann verwendet, um eine 3D-Oberfläche entsprechend der Fokusposition zu erstellen. Dies liegt an einer schnellen Flächenmessung statt punktueller Abtastung.
Die Batch-Analyse ermöglicht die automatische Auswertung aller Messdaten in einem Vorgang. Das spart Zeit und verhindert Anwendungsfehler durch wiederholte Messungen.
Das VK-X ist in der Lage, Oberflächenrauheit nach ISO 25178 und Linienrauheit nach ISO 4287 zu messen. 42 verschiedene Rauheitsparameter werden verwendet, um mehrere Messobjekte automatisch visuell zu vergleichen:
Dank der Bemühungen von Professor Warburton und seinem Team wurde das neue konfokale 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von sieben verschiedenen Forschungsgruppen des Physik-Departments, des SNI und des Nano Imaging Lab ausgehandelt und finanziert.
Für Messanleitungen oder weitere Informationen stellen Sie bitte eine Anfrage auf unserer Online-Plattform: https://www.nanoimaging1.unibas.ch oder kontaktieren Sie monica.schoenenberger@clutterunibas.ch