FlexAFM Nanosurf (AFM – Atomic Force Microscopy)
Technische Spezifikationen
- Maximale Probengrösse bis 100 mm im Durchmesser und 6mm Dicke
- Messkopf bis 100 µm in X & Y und 10 µm in Z-Höhe
- Messkopf bis 10 µm in X & Y und 3 µm in Z-Höhe
- Flüssigkeitszelle
- Temperaturkontrolle von 20°C bis 180°C
Modi
- Standard Abbildungsmodi: Static Force Mode, Dynamic Force Mode (Tapping Mode)
- Phase Imaging Mode
- Lateral Force Mode
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
- Force Spectroscopy (Adhäsion, Elastizität und Youngs Modulus)
- Force Modulation
- Nanomanipulation und Nanolithographie
Typische Applikationen
- Rauheitsmessungen auf Oberflächen
- Stufenhöhe und Oberflächencharakterisierung
- Kraftdistanzkurven auf Zellstrukturen und Elastizitätsmessungen auf biologischen Membranen
Standort
Departement Physik, Labor 0.17