• Maximaler Probendurchmesser bis 15 cm im Durchmesser
• 100 µm in X & Y und 20 µm in Z (Piezo-Scanner)
• 840-nm-SLD-Ausleselichtquelle, 785 nm photothermischer Anregungslaser für optionale photothermische Cantilever-Anregung
• automatische, motorisierte Annäherung über 10 mm
• automatische Laser- und Detektorausrichtung
• Betrieb in Luft und Flüssigkeit
• XY Drive Auflösung: 0,4 pm
• Z Auflösung des Antriebs: 0,06 pm
• Rauschpegel der Z-Messung (dynamisch): typ. 20 pm, max. 35 pm (RMS, dynamischer Modus in Luft) in geeigneter Umgebung
• Detektorbandbreite: DC - >6 MHz
• Betriebstemperatur: 15-40°C
• Luftfeuchtigkeit: bis zu 75% r.F.

Modi

• Standard Abbildungsmodi: Kontaktmodus, Dynamischer Modus
• WaveMode
• Phasenkontrast, Reibungsmodus
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Electrostatic Force Microscopy (EFM)
• Kelvin-Probe Force Microscopy (KPFM)
• Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
• Spektroskopiemodi
• Lithographie- und Manipulationmodus

Typische Applikationen

• Rauheitsmessungen auf Oberflächen
• Stufenhöhe und Oberflächencharakterisierung
• Kraftdistanzkurven auf Zellstrukturen und Biomembranen
• Mapping der nanomechanischen Eigenschaften

Standort

Departement Physik, Labor 0.17