Kristallstrukturen sichtbar machen – das neue TEM/STEM im Nano Imaging Lab
Unser neues Rastertransmissions-Elektronenmikroskop «Jeol JEM-F200 cFEG» verfügt über eine kalte Feldemissionsquelle und einer mehr als doppelt so hohen Beschleunigungsspannung als das bisherige TEM in unserem Labor. Diese Eigenschaften, sowie die Fähigkeit, die hauchdünne Probe vom Elektronenstrahl abrastern lassen zu können, machen das STEM/TEM in Kombination mit EDX zu einem einzigartigen Analysengerät, welches die Abbildung kleinster Kristallstrukturen in kondensierter Materie mit atomarer Auflösung und Elementanalyse ermöglicht. Eine passende Probenpräparation mit Hilfe des FIB/SEM kommt zu den bisherigen Möglichkeiten dazu. Es werden TEM-Lamellen angefertigt.
Ihre Anfragen zu unserem FIB- und TEM-Service nimmt Dr. Marcus Wyss gerne unter marcus.wyss-at-unibas.ch oder www.nanoimaging1.unibas.ch entgegen.