Höchst präzise Schnittgenauigkeit auf unserem neuen FEI Versa 3D Zweistrahl-Raster-Elektronenmikroskop
Das kürzlich in unserem Labor aufgebaute FEI Versa 3D Zweistrahlmikroskop zeichnet sich durch eine mit unserem viel genutzten FEI Helios NanoLab 650 Feldemissions-Raster-Elektronenmikroskop vergleichbare Bild- und Schnittauflösung aus und erfüllt unsere Erwartungen zur vollsten Zufriedenheit.
Das FEI Versa 3D Feldemissions-Raster-Elektronenmikroskop mit Schottky Emitter wird hauptsächlich zum Schneiden von FIB-Lamellen für TEM verwendet, kann aber dank des eingebauten Goldgasinjektionssystems auch zur Herstellung hochleitender Goldnanostrukturen via FEBID (Focused Electron Beam Induced Deposition) oder FIBID (Focused Ion Beam Induced Deposition) verwendet werden. Darüber hinaus verfügt das FEI Versa 3D über einen ApolloXTM EDX-Detektor für die Elementanalyse und über eine Montagemöglichkeit für einen Kleindiek-Mikromanipulator.
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