Mit REM untersuchen wir die Oberfläche einer Probe mit Sekundärelektronen (SE) und erstellen ein topografisches Bild. Mit Rückstreuelektronen (BSE) erhalten wir Informationen über die qualitative Materialzusammensetzung. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, wasserhaltige Proben ohne Trocknungsartefakte mittels Schockfrieren im Kryo-REM oder nach Kritisch-Punkt-Trocknung abzubilden.
Im TEM wird Ihr Objekt von Elektronen durchstrahlt und die austretenden Elektronen auf eine Bildfläche projiziert. Die Proben müssen dünn genug sein, um eine optimale Durchstrahlung zu gewährleisten. Man erhält Einblick in das Innenleben eines Präparates. Im STEM-Verfahren (scanning transmission electron microscopy) kann atomare Auflösung erzielt werden.
Das Topographiebild entsteht durch Abtasten der Oberfläche mit der Spitze eines feinen Messbalkens. Die Kräfte, welche zwischen Probe und Spitze wirken, können auch zur Bestimmung von anderen Eigenschaften wie Adhäsion, Ladungsverteilung, Elastizität, magnetische oder Oberflächenleitfähigkeit genutzt werden.
Die Oberflächendaten werden durch punktweise Laserabtastung mit extrem grosser Tiefenschärfe und hoher Präzision ermittelt. Durch die Kombination von Laserlicht und weissem Licht werden nicht nur dreidimensionale Messungen mit hoher Auflösung erzielt, sondern auch die Farbe der Oberfläche erfasst. Profil-, Volumen-, Rauheitsanalysen und Dicke eines transparenten Objekts können bestimmt werden.
Auf Wunsch bieten wir auch einfache Messungen von Proben mit einem konfokalen Fluoreszenzmikroskop an. Diese Dienstleistung wird von uns in der Imaging Core Facility des Biozentrums gemacht.
Für die selbständige Benutzung von Licht- und konfokalen Fluoreszenzlasermikroskopen melden Sie sich bitte in der Imaging Core Facility.
Mithilfe von verschiedenen Fotobearbeitungsprogrammen fertigen wir Collagen von mikroskopischen Aufnahmen an oder kolorieren Ihre Rasterelektronenmikroskopiebilder nach Wunsch. Bitte platzieren Sie hier eine unverbindliche Anfrage.