Bruker Dimension 3100 (AFM – Atomic Force Microscopy)
Technische Spezifikationen
- Maximale Probengrösse bis 20 cm im Durchmesser und 12 mm Dicke
- Messbilder bis 90 µm in X & Y und 6 µm in Z-Höhe
- in Luft und in Flüssigkeiten anwendbar
Modi
- Contact Mode, Tapping Mode
- Lateral Force Mode
- Phase Imaging Mode
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Typische Applikationen
- Charakterisierung von Oberflächenrauheiten
- Stufenhöhe und Abbildung der Topographie
Standort
Departement Physik, Labor 0.17