Bruker/JPK NanoWizard 4 (AFM – Atomic Force Microscopy)
Technische Spezifikationen
- Maximale Probengrösse bis 14 cm im Durchmesser und 18 mm Dicke
- Messbilder bis 100 µm in X & Y und 15 µm in Z-Höhe
- Gas- und Flüssigkeitszelle (HyperDrive™ fluid imaging für High Resolution AFM)
- Temperaturkontrolle von 15°C bis 60°C
- QI-Mode (High-resolution quantitative imaging)
- Kompatibel mit Zeiss Inversmikroskop
Modi
- Standard Abbildungsmodi: Contact Mode, Tapping Mode
- Phase Imaging Mode
- Lateral Force Mode
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
- Force Spectroscopy (Adhäsion, Elastizität und Youngs Modulus)
- Force Modulation
- Kelvin Probe Microscopy (KPFM)
- Conductive AFM (CAFM)
- Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
- Nanomanipulation und Nanolithographie
Typische Applikationen
- Rauheitsmessungen auf Oberflächen
- Stufenhöhe und Oberflächencharakterisierung
- Kraftdistanzkurven auf Zellstrukturen und Biomembranen
- Mapping der nanomechanischen Eigenschaften
Standort
Pharmazentrum, Labor U1011