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REM – FEI Versa 3D DualBeam
Technische Spezifikationen
Hochauflösendes Feldemissions-Raster-Elektronenmikroskop mit Schottky Emitter
Vergrößerung: 30 x – 1280 kx im „Quad“-Modus
Auflösung Elektronenstrahl:
2 nm bei 30 kV
9 nm bei 1 kV
Ionenstrahlauflösung:
7 nm bei 30 kV am Strahlkoinzidenzpunkt (5 nm erreichbar bei optimalem Arbeitsabstand)
Standard 5-Achsen Motortisch:
X, Y: 110 mm
Z: 65 mm motorisiert
T: -15° bis +90°
R: n x 360° (endlos)
X, Y-Wiederholbarkeit: 2,0 μm
Probengewicht: 500 g in jeder Tischposition (bis zu 2 kg bei 0 Grad Neigung)
Maximaler Abstand zwischen Stufe und Koinzidenzpunkt: 85 mm auf euzentrischer Höhe
Maximale Probengrösse: – 150 mm Durchmesser bei voller Drehung (größere Proben mit eingeschränkter Rotation möglich)
Detektoren und Mikroanalyse
Everhart-Thornley SE-Detektor (ETD)
Einziehbarer Niederspannungs- und Rückstreuelektronendetektor
IR-Kamera zum Betrachten der Probe/Säule
Hochleistungs SE- und SI- (Sekundärionen) Detektor (ICE)
Detektor für energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (Apollo EDX) mit Genesis & Team Software (EDAX)
Typische Applikationen und Zubehör
Abbilden, Analysieren, Fräsen und Strukturierung von Proben bis in den Nanometerbereich
TEM lift out / TEM lamella
Nanofabrikation und Mikromanipulation
Multiples
Gasinjektionssystem für Au-und Pt-Abscheidung (FEBID und FIBID); C-Abscheidung (nur FEBID)
Mikromanipulator von Kleindiek
Standort
Pharmazentrum, U1007
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