REM – FEI Versa 3D DualBeam
Technische Spezifikationen
- Hochauflösendes Feldemissions-Raster-Elektronenmikroskop mit Schottky Emitter
- Vergrößerung: 30 x – 1280 kx im „Quad“-Modus
- Auflösung Elektronenstrahl:
- 2 nm bei 30 kV
- 9 nm bei 1 kV
- Ionenstrahlauflösung:
- 7 nm bei 30 kV am Strahlkoinzidenzpunkt (5 nm erreichbar bei optimalem Arbeitsabstand)
- Standard 5-Achsen Motortisch:
- X, Y: 110 mm
- Z: 65 mm motorisiert
- T: -15° bis +90°
- R: n x 360° (endlos)
- X, Y-Wiederholbarkeit: 2,0 μm
- Probengewicht: 500 g in jeder Tischposition (bis zu 2 kg bei 0 Grad Neigung)
- Maximaler Abstand zwischen Stufe und Koinzidenzpunkt: 85 mm auf euzentrischer Höhe
- Maximale Probengrösse: – 150 mm Durchmesser bei voller Drehung (größere Proben mit eingeschränkter Rotation möglich)
Detektoren und Mikroanalyse
- Everhart-Thornley SE-Detektor (ETD)
- Einziehbarer Niederspannungs- und Rückstreuelektronendetektor
- IR-Kamera zum Betrachten der Probe/Säule
- Hochleistungs SE- und SI- (Sekundärionen) Detektor (ICE)
- Detektor für energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (Apollo EDX) mit Genesis & Team Software (EDAX)
Typische Applikationen und Zubehör
- Abbilden, Analysieren, Fräsen und Strukturierung von Proben bis in den Nanometerbereich
- TEM lift out / TEM lamella
- Nanofabrikation und Mikromanipulation
- Multiples Gasinjektionssystem für Au-und Pt-Abscheidung (FEBID und FIBID); C-Abscheidung (nur FEBID)
- Mikromanipulator von Kleindiek
Standort
Pharmazentrum, U1007