• Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM Schottky)
• verfügt über Gemini 2-Optik mit einem Doppelkondensor, welcher eine kontinuierliche Anpassung des Elektronenstrahls von 0.02 – 30kV (10V-Schritte) ermöglicht
• Auflösung Elektronenstrahl:
  • 0.7 nm @ 15 kV
  • 1.1 nm @ 500 V and 1 kV
• Vergrösserung:  12x – 2’000’000x

Detektoren und Mikroanalyse

• SE InLens Detektor
• EsB Detektor, Energy-selective Backscattered Detektor zur SE- und BSE-Detektion
• SE2 Detektor (Everhart-Thornley)
• VPSE Detektor, Variable Presssure Secondary Electron Detektor zur Untersuchung von nicht-leitenden Oberflächen
• aSTEM Detektor
• aBSD Detektor, annular BackScattered electron Detector für hocheffiziente und winkelselektive Materialcharakterisierung
• Octane Elite Detektor zur Bestimmung leichter Elemente und Mikroanalyse bei niedrigen kV in Kombination mit der Velocity Pro EBSD-Kamera (Electron BackScatter Diffraction) von EDAX
• Charakterisierung von Electron Backscatter Diffraction (EBSD)-Mustern (Kristallorientierung) innerhalb der APEX-Softwareplattform

Typische Applikationen und Zubehör

• Abbildung und Materialanalyse
• Kristallographische Bestimmung im Nanobereich

Standort

Pharmazentrum, U1002