STEM – JEOL JEM-F200 cFEG
Technische Spezifikationen
- kalte Feldemissionsquelle
- 20 bis 200 kV Beschleunigungsspannung
- Auflösung:
- TEM, Punkt: 0.19 nm
- TEM, Gitter: 0.10 nm
- STEM-HAADF: 0.14 nm
- Vergrösserung TEM von x 20 bis x 2.0 M; STEM von x 200 bis x 150 M
- Energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (EDS)
- Probengrösse: TEM-Grids von 3 x 3 mm
Abbildungsmodi
- HAADF STEM (High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy)
- Hell- / Dunkelfeld (BF & DF) -TEM und -STEM
- 3D-EDS Tomographie: Rekonstruktionsverfahren dreidimensionaler innerer Strukturen durch Computerbildverarbeitung vieler Projektionsbilder, die aus sequentiellen Tilt-Serienbildern einer Probe gewonnen werden
Typische Applikationen
- Charakterisierung von Nanopartikeln, Dünnfilmen und nanostrukturierte Materialien
- Atomare Auflösung und Elektronenbeugungsbilder (Transmissions-Kikuchi-Muster)
Standort
Pharmazentrum, PZ U1097