STEM – JEOL JEM-F200 cFEG

Technische Spezifikationen

STEM – Jeol JEM-F200 cFEG
  • kalte Feld­emissions­quelle
  • 20 bis 200 kV Beschleunigungsspannung
  • Auflösung:
    • TEM, Punkt: 0.19 nm
    • TEM, Gitter: 0.10 nm
    • STEM-HAADF: 0.14 nm
  • Vergrösserung TEM von x 20 bis x 2.0 M; STEM von x 200 bis x 150 M
  • Energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (EDS)
  • Probengrösse: TEM-Grids von 3 x 3 mm

Abbildungsmodi

  • HAADF STEM (High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy)
  • Hell- / Dunkelfeld (BF & DF) -TEM und -STEM
  • 3D-EDS Tomographie: Rekonstruktionsverfahren dreidimensionaler innerer Strukturen durch Computerbildverarbeitung vieler Projektionsbilder, die aus sequentiellen Tilt-Serienbildern einer Probe gewonnen werden

Typische Applikationen

  • Charakterisierung von Nanopartikeln, Dünnfilmen und nanostrukturierte Materialien
  • Atomare Auflösung und Elektronenbeugungsbilder (Transmissions-Kikuchi-Muster)

Standort

Pharmazentrum, PZ U1097