STEM – JEOL JEM-F200 cFEG
Technische Spezifikationen

- kalte Feldemissionsquelle
- 20 bis 200 kV Beschleunigungsspannung
- Auflösung:
- TEM, Punkt: 0.19 nm
- TEM, Gitter: 0.10 nm
- STEM-HAADF: 0.14 nm
- Vergrösserung TEM von x 20 bis x 2.0 M; STEM von x 200 bis x 150 M
- Energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (EDS)
- Max. Kippwinkel: ±80° (mit High-Tilt-Halter)
Abbildungsmodi
- HAAF STEM (High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy)
- Bright-field (BF) & dark-field (DF) TEM and STEM, as well as analysis from various types of detectors
- 3D-EDS Tomographie: Rekonstruktionsverfahren dreidimensionaler innerer Strukturen durch Computerbildverarbeitung vieler Projektionsbilder, die aus sequentiellen Tilt-Serienbildern einer Probe gewonnen werden.
Typische Applikationen
- Analyse von biologischen Proben
- Charakterisierung von Nanopartikeln und Materialschichten
- Atomare Auflösung
Standort
Pharmazentrum, PZ U1097